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首页>根据【检索词:Pericom针对PCI Express推出系列解决方案/】搜索到相关结果4条

第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 西安并行测试技术研讨会 解决方案 同期封装测试现场展示混合信号设计; 描述：第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安

科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片特性无线应用芯片尺寸测试设备工程验证混合信号复杂度; 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度。[第一段]

科利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司 MSVanguard系列半导体行业生产测试逻辑集成电路; 描述：科利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费

第四届科利登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 技术研讨会西安中国年会 IC测试 RFID芯片; 描述：对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣，积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨，同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10，也吸引了代表们的高度关注。[第一段]

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