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首页>根据【检索词:IC测试】搜索到相关结果8条

Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 经济化革新测试电子产品电池寿命操作性能图象质量制造商消费类; 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新

科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： China 测试系统 IC 成本科利登系统公司芯片市场需求多功能; 描述：为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求，科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统

芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试: 作者：丁辉文 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： 温度稳定装置确测试系统热管理系统科利登公司芯片级温度稳定技术测试成本集成电路; 描述：芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试

科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司测试系统自动测试设备微处理器芯片 SPARC 高速芯片系统使用; 描述：开发。[第一段]

ATE巨头科利登掀起测试行业新高潮: 作者：Peter Wu Mike Evon 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 测试平台 ATE 行业科利登公司高潮掀起 SEMI 中国市场中国用户总经理; 描述：采访记录。

全新的科利登：提供先进技术降低测试成本: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司测试成本竞争优势商业战略; 描述：全新的科利登：提供先进技术降低测试成本

Atmel利用科利登的ASL3000RFTM无线测试系统实: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 无线测试 ASL3000 测试效率 WLAN 测试解决方案无线器件测试成本分支机构团队工程开发; 描述：N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。

科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司 VLSI公司用户满意度自动测试设备; 描述：科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查

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