检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(197)
报纸
(100)
会议论文
(3)
学位论文
(1)
按栏目分组
历史名人
(291)
地方风物
(5)
宗教集要
(2)
地方文献
(2)
非遗保护
(1)
按年份分组
2013
(9)
2011
(24)
2007
(12)
2006
(20)
2005
(32)
2004
(22)
2003
(25)
2002
(1)
2001
(7)
1986
(1)
按来源分组
中国集成电路
(15)
半导体技术
(10)
集成电路应用
(8)
电子元器件应用
(5)
中国证券报
(3)
电子与封装
(3)
中国花卉盆景
(1)
湖北农机化
(1)
新领军
(1)
无线电工程
(1)
相关搜索词
SoC芯片
全球范围
Raytheon公司
器件
公司
图象质量
发展
农机推广
半导体工业
科利登公司
器件测试
市场
基础产品
原始资料
基础设施
创新
VLSI公司
Octet系统
PXI模块
测试
供应商
半导体行业
Sapphire
光纤通道控制器芯片
唐宋八大家
加工成本
员工
商场
太阳神
首页
>
根据【检索词:DA测试公司】搜索到相关结果
15
条
Raytheon
公司
选用科利登的IMS Electm系统测
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Raytheon
公司
IMSElectm系统
测试
逻辑集成电路
描述:
Raytheon
公司
选用科利登的IMS Electm系统测
科利登:立志成为全球最大的ATE
公司
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体产业
测试
集成电路设计
中国市场
设备
公司
中国
公司
记者
发展
全球
上海
描述:
China 2004期间,记者访问了科利登中国
公司
总经理Steve Chen和科利登
公司
产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
科利登的Sapphire S
测试
系统被Sun
公司
采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun
公司
测试
系统
自动测试设备
systems
公司
微处理器芯片
高速芯片
科利登
公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确
测试
。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有
测试
那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
为不断降低
测试
成本而创新——访科利登
公司
中国区总经理陈绪先生
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登
公司
总经理
测试
成本
中国
创新
描述:
为不断降低
测试
成本而创新——访科利登
公司
中国区总经理陈绪先生
科利登连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科利登系统
公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科利登系统
公司
近日宣布:根据VLSI
公司
2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳
测试
与材料加工设备
公司
中排名第四。[第一段]
科利登推出Sapphire-D10系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sapphire
D10系统
封装
测试
集成电路
科利登系统
公司
描述:
高的并行能力。[第一段]
科利登推出新型
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
推出
Kalos
集成电路
测试
系统
Personal
科利登系统
公司
非挥发性存储器
测试
能力
存储器件
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用
测试
系统Kalos 2和工程
测试
系统Personal Kalos 2完全兼容。
用于消费类器件
测试
的解决方案——Sapphire D-10
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
器件
测试
并行
测试
特性分析
测试
系统
专用芯片
高密度
测试
能力
移动电话
高集成
数字仪器
描述:
IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车
科利登新品提供先进的射频
测试
能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
能力
射频
Zigbee
科利登
公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试
平台
无线电话
描述:
科利登
公司
近日宣布:在其新的Sapphire D-40
测试
平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在
测试
无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
科利登
测试
系统被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科利登系统
公司
gigabit
解决方案
测试
平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科利登系统
公司
13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire
测试
系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键
测试
平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
首页
上一页
1
2
下一页
尾页