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1
条
用于消费类
器件
测试的解决方案——Sapphire D-10
作者：
暂无
来源：
中国集成电路
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
器件
测试
并行测试
特性分析
测试系统
专用芯片
高密度
测试能力
移动电话
高集成
数字仪器
描述：
IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车
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