检索结果相关分组
- 为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 作者：胡芃 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 总经理 测试成本 中国 创新
- 描述：为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 科利登获“最佳测试奖”
- 作者：暂无 来源：上海商报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述： 本报讯 近日，来自美国加州苗必达市的消息称：科利登系统有限公司的Ｓａｐｐｈｉｒｅ Ｄ－１０系统荣获２００６年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解，Ｓａｐｐｈｉｒｅ
- 科利登Sapphire D-10系统获奖
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统 获奖 award 有限公司 Best Test 测试
- 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
- 科利登最新推出Sapphire
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 有限公司 半导体材料 半导体工业 美国加州 供应商 e系列 系统
- 描述：来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息，为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展（Semicon West）上展示了该公司领先业界
- 威盛电子选用科利登解决方案
- 作者：刘林发 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 威盛电子股份有限公司 设计公司 分析实验室 台湾地区 特征分析 Inc 生产线 购买
- 描述：科利登系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc．)成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
- 科利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：【杨振中／北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登（Credence）在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
- 第四届科利登年度技术研讨会西安召开
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题，如IC 测试
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。