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科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
作者:暂无 来源:电子设计应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登公司  芯片  成本控制  封装测试系统  D—10系统  图形调试 
描述:科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统