检索结果相关分组
充分利用信息化资源 促进企业创新——访中国工程院院士吴澄
作者:江彦  来源:中国制造业信息化:应用版 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 企业信息化  企业创新  中国工程院院士  资源  自主创新  计算机  人力  资金  物力  知识 
描述:记者面向“十一五”国家倡导自主创新的大环境下,企业信息化过程中有哪些方面需要引起重视?吴澄:在我国实施信息化过程中,政府、企业投入了大量的资金、人力、物力等等支持信息化,但是有一个很重要的问题,资源
名与
作者:翁礼华  来源:新理财 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 行为举止  《周礼》  中国古代  衣食住行  丧葬礼仪  等级制  官爵 
描述:有名者不可图利,有利者谋名亦难免有风险。个中得失道理尽管如此明白,有些人还是免不了煞费苦心追逐名利
王英推行村级资金账务“双代管”
作者:梁坚义  来源:黄石日报 年份:2006 文献类型 :报纸 关键词: 双代管  村级财务  民主理财  账务  制度  财务核算中心  集体经济组织  农村财务  支部书记  违纪违规 
描述:本报讯阳新王英镇推行村级财 务“双代管”制度,有效遏止了农村财 务管理的混乱现象,堵塞了农村集体资 金流失的源头。$$ 今年来,该镇清查出漏报收入21 笔计7.8万元,清退“三无”发票126 张,涉及金额4.26万元,退赔不合理 招待费、礼金33笔计2.16万元。$$ 此前,王英镇农村账务管理不善,
登最新推出Sapphire
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  有限公司  半导体材料  半导体工业  美国加州  供应商  e系列  系统 
描述:来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科登系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
威盛电子选用科登解决方案
作者:刘林发  来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 威盛电子股份有限公司  设计公司  分析实验室  台湾地区  特征分析  Inc  生产线  购买 
描述:登系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从科登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
克访华磋商胡布会细节
作者:暂无 来源:钱江晚报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:新华社北京1月24日电 国务院总理温家宝24日在钓鱼台国宾馆会见了美国常务副国务卿佐克。温家宝同客人就双边关系和共同关心的国际及地区问题交换了看法。 同日,外交部长李肇星也在钓鱼台国宾馆会见佐
登获“最佳测试奖”
作者:暂无 来源:上海商报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:  本报讯  近日,来自美国加州苗必达市的消息称:科登系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解,Sapphire
登Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
登推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  测试能力  自动测试设备  登系统公司  Sun公司  4G  微处理器芯片 
描述:度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]