检索结果相关分组
科利登和Cadence合力加快良诊断的新流程
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:科利登(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了测试产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]