检索结果相关分组
名与
作者:翁礼华  来源:新理财 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 行为举止  《周礼》  中国古代  衣食住行  丧葬礼仪  等级制  官爵 
描述:有名者不可图利,有利者谋名亦难免有风险。个中得失道理尽管如此明白,有些人还是免不了煞费苦心追逐名利
作者:娄可树  来源:文史天地 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: “乌诗案”  中国  御史台  监察机关  李国文  开封市  王安石 
描述:地名。他先在《中国文人的活法“·城东不斗少年鸡”》一文中说“:乌是都城开封御史衙门所在地”。接着又在《中国文人的非正常死亡·王安石之死》一文中进一步强调“:乌是宋代开封御史衙门所在地
郁然深秀——王《山水》赏析
作者:萧沐容  来源:大美术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词:   四大家  黄鹤  中国绘画史  赏析  元代文人  赵孟  明代  风格  画卷 
描述:为“元季四大家”。
之悲剧美
作者:王英  来源:机电兵船档案 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 王英  《兰之悲剧美》  中国  当代文学作品  杂文 
描述:之悲剧美
克访华磋商胡布会细节
作者:暂无 来源:钱江晚报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:新华社北京1月24日电 国务院总理温家宝24日在钓鱼台国宾馆会见了美国常务副国务卿佐克。温家宝同客人就双边关系和共同关心的国际及地区问题交换了看法。 同日,外交部长李肇星也在钓鱼台国宾馆会见佐
登获“最佳测试奖”
作者:暂无 来源:上海商报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:  本报讯  近日,来自美国加州苗必达市的消息称:科登系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解,Sapphire
登Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
登最新推出Sapphire
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  有限公司  半导体材料  半导体工业  美国加州  供应商  e系列  系统 
描述:来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科登系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
威盛电子选用科登解决方案
作者:刘林发  来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 威盛电子股份有限公司  设计公司  分析实验室  台湾地区  特征分析  Inc  生产线  购买 
描述:登系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从科登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
登SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科登(Credence)在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析