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首页>根据【检索词:芯片测试】搜索到相关结果4条

科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试: 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 测试实验室测试系统欧洲混合信号多媒体高电压芯片视频; 描述：科利登系统有限公司宣布：欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH，购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音，视频数字和混合

科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解: 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2005 文献类型：期刊文章; 描述：以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]

科利登推出具有6．4G bps测试能力的Sapphires: 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 测试系统测试能力自动测试设备科利登系统公司 Sun公司 4G 微处理器芯片; 描述：度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]

服务测试领域满足客户需求：访科利登系统公司首席执行官Da: 作者：Dave Ranhoff 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统公司首席执行官服务测试客户需求测试解决方案全球范围技术人员设备制造商科利登公司工业设计; 描述：科利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]

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