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测试
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半导体材料
半导体行业
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systems公司
器件测试
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根据【检索词:科利登系统有限公司】搜索到相关结果
17
条
Silicon Image购买了
科
利
登
Sapphire测试
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
电子器件
测试
系统
消费类
购买
科
利
登
系统
公司
gigabit
一代
测试解决方案
半导体工业
测试平台
有限公司
数据传输
供应商
存储器
代码
描述:
些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
香港科技园运用
科
利
登
的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
特征分析
科技园
分析能力
诊断
香港
Systems
工具
有限公司
CMOS
工程验证
描述:
科
利
登
系统
有限公司
(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列
科
利
登
诊断、工程验证、特征分析及测试仪
系统
的基础
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换
系统
调试方法
工艺性能
描述:
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
新型
科
利
登
GlobalScan-Ⅰ
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
掩模
测试解决方案
系统
定位
集成电路
量产时间
物理分析
供应商
问题
产品
描述:
正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科
利
登
系统
公司2004年第二季度财务报告
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
系统
公司2004年第二季度财务报告
DMEA购买
科
利
登
IMS Vanguard测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
DMEA工程实验室
IMS
Vanguard测试
系统
科
利
登
公司
微处理器
描述:
DMEA购买
科
利
登
IMS Vanguard测试
系统
科
利
登
推出Kalos 2 Hex
系统
作为存储器器件灵活,完
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Kalos
测试解决方案
x
系统
推出
He
集成电路测试
系统
Personal
科
利
登
系统
公司
非挥发性存储器
存储器件
测试能力
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用测试
系统
Kalos 2和工程测试
系统
Personal Kalos 2完全兼容。多台K2 Hex
系统
已经安装并用于复杂嵌入存储器件的测试。
Ikanos选择
科
利
登
的Octet
系统
用于宽带数宇信号处理
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
宽带数字信号处理器
测试
Octet
系统
Ikanos公司
描述:
Ikanos选择
科
利
登
的Octet
系统
用于宽带数宇信号处理
科
利
登
宣布收购NPTest的最终协议
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
NPTest公司
非DRAM半导体测试领域
企业重组
描述:
科
利
登
宣布收购NPTest的最终协议
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