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推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
推出注重芯片成本的高量产测试系统
作者:暂无 来源:电子设计应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  芯片  成本控制  封装测试系统  D—10系统  图形调试 
描述:推出注重芯片成本的高量产测试系统
推出Sapphire-D10系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Sapphire  D10系统  封装  测试  集成电路  系统公司 
描述:高的并行能力。[第一段]
推出新型测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 推出  Kalos  集成电路测试系统  Personal  系统公司  非挥发性存储器  测试能力  存储器件  软件工具  嵌入式  全兼容  硬件 
描述:生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。
推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  系统公司  微控制器  混合信号  显示驱动  e系列  多功能  消费类  封装 
描述:系统公司(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
Sapphire D-10来自测试经济化革新
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 经济化  革新  测试  电子产品  电池寿命  操作性能  图象质量  制造商  消费类 
描述:Sapphire D-10来自测试经济化革新
登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: China  测试系统  IC  成本  系统公司  芯片  市场需求  多功能 
描述:为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
测试系统被Silicon Image采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  测试系统  系统公司  gigabit  解决方案  测试平台  电子器件  有限公司  数据传输  数字媒体  存储器  消费类  供应商  半导体 
描述:系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
Silicon Image购买了Sapphire测试
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  电子器件  测试系统  消费类  购买  系统公司  gigabit  一代  测试解决方案  半导体工业  测试平台  有限公司  数据传输  供应商  存储器  代码 
描述:些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
推出Kalos 2 Hex系统作为存储器器件灵活,完
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Kalos  测试解决方案  x系统  推出  He  集成电路测试系统  Personal  系统公司  非挥发性存储器  存储器件  测试能力  软件工具  嵌入式  全兼容  硬件 
描述:生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。多台K2 Hex系统已经安装并用于复杂嵌入存储器件的测试