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首页>根据【检索词:科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解】搜索到相关结果4条

科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统: 作者：暂无 来源：电子设计应用 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司芯片成本控制封装测试系统 D—10系统图形调试; 描述：科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统

科利登跻身ATE塔尖行列: 作者：东郭 来源：电子设计应用 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 半导体行业科利登公司 ATE IC SoC 测试 ASL1000 ASL3000RF 市场; 描述：科利登跻身ATE塔尖行列

新闻总汇--测试与测量: 作者：暂无 来源：电子设计应用 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： LabVIEW工具包 NI公司非挥发性存储器器件软件驱动程序光纤通道控制器芯片科利登系统有限公司; 描述：新闻总汇--测试与测量

Pericom针对PCI Express推出系列解决方案/: 作者：暂无 来源：电子设计应用 年份：2005 文献类型：期刊文章; 描述：Pericom针对PCI Express推出系列解决方案/

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