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相关搜索词
图形调试
Sapphire
存储器件
多功能
图象质量
Verity系统
存储器
多媒体
器件
Sun公司
半导体工业
参数分析
中国市场
测试
半导体行业
发展
Raytheon公司
吞吐量
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加工成本
半导体材料
Octet系统
SoC芯片
复杂度
科利登公司
增强型
Personal
半导体业
systems公司
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根据【检索词:科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解】搜索到相关结果
20
条
日月光定购多台
科
利
登
的SoC
测试
系统Octet
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
SoC
测试
半导体
测试
生产
测试
器件
光测
系统性能
测试
能力
纳斯达克
股票
量产
描述:
统性能和
测试
能力,可以满足下一代器件技术,对
测试
系统
测试
容量和范围的要求。
科
利
登
最新
推出
Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先供应商一科
利
登
系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
科
利
登
发布D-6432DFT
测试
解决方案,帮助用户满足不断
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
高数据速率
Systems
用户
半导体工业
微处理器
测试
平台
供应商
描述:
件。该设备的
推出
再次强化了
科
利
登
市场领先的Sapphire
测试
平台。[第一段]
Zetex半导体选择
科
利
登
的ASL3000
测试
其类型广泛的
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
混合信号
拟和
科
利
登
系统公司
类型
测试
解决方案
集成电路器件
美国加州
半导体业
测试
成本
分立器件
产品市场
测试
方案
供应商
设计
描述:
说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的
测试
方案。
通过购买多台
科
利
登
的ASL1000
测试
系统Best Ele
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL1000
供应商
购买
半导体行业
Components公司
世界
有限公司
测试
成本
混合信号
测试
解决方案
描述:
ECCI是业界领先的
测试
方案供应商,可以为线性、模拟和混合信号器件提供参数及功能
测试
的完整方案。该公司将采用ASL1000^TM
测试
温度传感器,
矽格定购了多台
科
利
登
Sapphire
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
测试
与封装外包市场的增长。
科
利
登
具有6.4G速度
测试
能力的Sapphire S
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gb·ps的高速
芯片
。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器
芯片
的开发。[第一
科
利
登
推出
世界第一种完整的设计纠错和验证解决方案
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统公司
设计纠错
验证
Verity系统
描述:
科
利
登
推出
世界第一种完整的设计纠错和验证解决方案
全球有超过150套的
科
利
登
的3.2Gbps
测试
设备用于高速
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
被全球10大主要客户所采用,这些客户有著名的fabless设计公司,
测试
承包商及IDM领导厂商。
科
利
登
D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及
量产
测试
,包括HyperTransport
欧洲领先的
测试
实验室Microtec购买多台
科
利
登
Sapp
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
频数字和混合信号
芯片
,以及一些工业上应用的高电压
芯片
。[第一段]
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