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合作
分析能力
合力
加工成本
半导体工业
复杂度
中国市场
半导体生产
测试
半导体行业
器件
半导体材料
存储器件
威盛电子股份有限公司
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根据【检索词:科利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程】搜索到相关结果
74
条
香港科技园运用
科
利
登
的工具完善其
诊断
和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
特征分析
科技园
分析能力
诊断
香港
Systems
工具
有限公司
CMOS
工程验证
描述:
科
利
登
系统有限公司(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列
科
利
登
诊断
、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
而今迈步重“
登
殿” 上昆
合力
打造昆曲全本《长生殿》
作者:
赏坤
来源:
上海戏剧
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
《长生殿》
全本
昆曲
合力
《牡丹亭》
描述:
殿》以唐明皇和杨贵妃的男女之情寄托国家兴亡之感,以丰富的想象力驰骋地下、人间和天上,感人的情节,壮丽的
香港科技园运用
科
利
登
先进的工具完善其
诊断
和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
科
利
登
新
推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
测试能力
射频
RF
测试解决方案
Zigbee
半导体工业
WiMax
有限公司
测试选件
描述:
pphire D系列的测试能力。[第一段]
科
利
登
新
推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
科
利
登
获“最佳测试奖”
作者:
暂无
来源:
上海商报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
本报讯 近日,来自美国加州苗必达市的消息称:
科
利
登
系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解,Sapphire
科
利
登
Sapphire D-10系统获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科
利
登
系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
科
利
登
最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科
利
登
系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
威盛电子选用
科
利
登
解决方案
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
设计公司
分析实验室
台湾地区
特征分析
Inc
生产线
购买
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从
科
利
登
购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
科
利
登
SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──
科
利
登
(Credence)在刚刚 结束的“
2006
SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
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