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合作
分析能力
合力
加工成本
半导体工业
复杂度
中国市场
半导体生产
测试
半导体行业
器件
半导体材料
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根据【检索词:科利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程】搜索到相关结果
1755
条
科
利
登
和
Cadence
合作验证
加快
良
率
诊断
的
新
流程
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统公司
诊断
测试平台
Test
测试覆盖率
测试向量
描述:
adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该
诊断
流程
能增加测试覆盖率,提高缺陷定位速度。[第一段]
Credence和
Cadence
合作验证
加快
良
率
诊断
的
新
流程
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统公司
诊断
测试平台
Test
测试向量
描述:
段]
科
利
登
和
Cadence
合力
加快
良
率
诊断
的
新
流程
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
(Credence)和
Cadence
共同努力,针对现在大部分
良
率
要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了测试产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
科
利
登
(Credence)和
Cadence
合作验证
加快
良
率
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统公司
诊断
测试平台
Test
测试向量
捕获数
描述:
adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据,[第一段]
香港科技园运用
科
利
登
的工具完善其
诊断
和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
特征分析
科技园
分析能力
诊断
香港
Systems
工具
有限公司
CMOS
工程验证
描述:
科
利
登
系统有限公司(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列
科
利
登
诊断
、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
而今迈步重“
登
殿” 上昆
合力
打造昆曲全本《长生殿》
作者:
赏坤
来源:
上海戏剧
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
《长生殿》
全本
昆曲
合力
《牡丹亭》
描述:
殿》以唐明皇和杨贵妃的男女之情寄托国家兴亡之感,以丰富的想象力驰骋地下、人间和天上,感人的情节,壮丽的
香港科技园运用
科
利
登
先进的工具完善其
诊断
和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
科
利
登
任命Dave House为董事会
新
执行主席
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2005
文献类型 :
报纸
描述:
[杨振中/北京]为世界 半导体工业提供从设计到生 产测试解决方案的领先供应 商──
科
利
登
系统有限公司 日前宣布:在英特尔公司担 任22年经理职务的Dave House,被任命为
科
利
登
董事 会
科
利
登
新
推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科
利
登
日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科
利
登
新
推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
测试能力
射频
RF
测试解决方案
Zigbee
半导体工业
WiMax
有限公司
测试选件
描述:
pphire D系列的测试能力。[第一段]
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