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2
条
用于
消费类
器件测试的解决方案——Sapphire D-10
作者：
暂无
来源：
中国集成电路
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
器件测试
并行测试
特性分析
测试系统
专用芯片
高密度
测试能力
移动电话
高集成
数字仪器
描述：
IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产
消费类
电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁
科利登测试系统被Silicon Image采用
作者：
暂无
来源：
中国集成电路
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
Silicon
Image
测试系统
科利登系统公司
gigabit
解决方案
测试平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述：
科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来
消费类
电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
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