检索结果相关分组
- 《考工记·磬氏》验证
- 作者：孙琛 年份：2007 文献类型 ：学位论文 关键词： 《周礼·考工记·磬氏》 验证
- 描述：信息。本文以此为基础，以前人研究成果为参照，试图对《考工记·磬氏》有关编磬制作规范的记载，及《考工记·磬氏》的成书时代、国别等进行较为全面地对照分析。是为“《考工记·磬氏》验证”。
- 科利登推出世界第一种完整的设计纠错和验证解决方案
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 设计纠错 验证 Verity系统
- 描述：科利登推出世界第一种完整的设计纠错和验证解决方案
- 物理设计纠错和验证完整解决方案 显著加快新品上市进程
- 作者：丁辉文 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 物理设计纠错 验证 半导体制造 硅片纠错 科利登公司
- 描述：术的快速发展与迅速变
- 科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 设计纠错 验证 Verity系统 芯片
- 描述：科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
- 科利登（Credence）和Cadence合作验证加快良率
- 作者：暂无 来源：半导体行业 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Cadence 验证 合作 科利登系统公司 诊断 测试平台 Test 测试向量 捕获数
- 描述：adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据，[第一段]
- Credence和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Cadence 验证 合作 科利登系统公司 诊断 测试平台 Test 测试向量
- 描述：段]
- 科利登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Cadence 验证 合作 科利登系统公司 诊断 测试平台 Test 测试覆盖率 测试向量
- 描述：adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中，使用该诊断流程能增加测试覆盖率，提高缺陷定位速度。[第一段]
- Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 经济化 革新 测试 电子产品 电池寿命 操作性能 图象质量 制造商 消费类
- 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： Raytheon公司 IMSElectm系统 测试 逻辑集成电路
- 描述：Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测