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首页>根据【检索词:测试技术】搜索到相关结果9条

Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 经济化革新测试电子产品电池寿命操作性能图象质量制造商消费类; 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新

芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试: 作者：丁辉文 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： 温度稳定装置确测试系统热管理系统科利登公司芯片级温度稳定技术测试成本集成电路; 描述：芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试

科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司测试系统自动测试设备微处理器芯片 SPARC 高速芯片系统使用; 描述：开发。[第一段]

ATE巨头科利登掀起测试行业新高潮: 作者：Peter Wu Mike Evon 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 测试平台 ATE 行业科利登公司高潮掀起 SEMI 中国市场中国用户总经理; 描述：采访记录。

全新的科利登：提供先进技术降低测试成本: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司测试成本竞争优势商业战略; 描述：全新的科利登：提供先进技术降低测试成本

Atmel利用科利登的ASL3000RFTM无线测试系统实: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 无线测试 ASL3000 测试效率 WLAN 测试解决方案无线器件测试成本分支机构团队工程开发; 描述：N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。

科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司 VLSI公司用户满意度自动测试设备; 描述：科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查

第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 西安并行测试技术研讨会解决方案同期封装测试现场展示混合信号设计; 描述：第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安

第四届科利登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 技术研讨会西安中国年会 IC测试 RFID芯片; 描述：对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣，积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨，同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10，也吸引了代表们的高度关注。[第一段]

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