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条
科利登Sapphire D-10系统获奖
作者：
暂无
来源：
国外电子测量技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述：
科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳
测试
奖）奖项。[第一段]
科利登完备失效分析
实验室
落户威盛
作者：
暂无
来源：
国外电子测量技术
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
威盛电子股份有限公司
分析
实验室
失效
完备
设计公司
科利登公司
台湾地区
特征分析
生产线
购买
描述：
科利登公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析
实验室
的Fabless（无生产线的芯片设计公司）。[第一段]
科利登引领
测试
经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者：
王明伟
来源：
国外电子测量技术
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
新潮流
测试
系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品
测试
技术发展
测试
设备
描述：
科利登引领
测试
经济化新潮流——Sapphire D-10亮
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