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半导体工业
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根据【检索词:波利登公司利用地下气体探测矿床】搜索到相关结果
48
条
科
利
登
的Sapphire S测试系统被Sun
公司
采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun
公司
测试系统
自动测试设备
systems
公司
微处理器芯片
高速芯片
科
利
登
公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
为不断降低测试成本而创新——访科
利
登
公司
中国区总经理陈绪先生
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
总经理
测试成本
中国
创新
描述:
为不断降低测试成本而创新——访科
利
登
公司
中国区总经理陈绪先生
服务测试领域 满足客户需求:访科
利
登
系统
公司
首席执行官Da
作者:
Dave
Ranhoff
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
首席执行官
服务测试
客户需求
测试解决方案
全球范围
技术人员
设备制造商
科
利
登
公司
工业设计
描述:
科
利
登
系统
公司
首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
科
利
登
公司
连续第五年取得VLSI Research十佳客户
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
在
2006
年度VLSI Research客户满意度调查中,科
利
登
公司
再次取得了很好的排名。科
利
登
公司
已经连续五年被客户评选为“十佳”的前五名,这也证明了科
利
登
公司
的产品、客户服务和支持的独到之处
科
利
登
最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科
利
登
系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
威盛电子选用科
利
登
解决方案
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
设计
公司
分析实验室
台湾地区
特征分析
Inc
生产线
购买
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从科
利
登
购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
科
利
登
获“最佳测试奖”
作者:
暂无
来源:
上海商报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
本报讯 近日,来自美国加州苗必达市的消息称:科
利
登
系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解,Sapphire
科
利
登
Sapphire D-10系统获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科
利
登
系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
科
利
登
推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
测试能力
自动测试设备
科
利
登
系统
公司
Sun
公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun
公司
将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科
利
登
Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems
公司
Sun
公司
测试系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
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