检索结果相关分组
- 第四届科利登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 技术研讨会 西安 中国 年会 IC测试 RFID芯片
- 描述：对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣，积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨，同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10，也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
- 第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 西安 并行测试 技术研讨会 解决方案 同期 封装测试 现场 展示 混合信号 设计
- 描述：第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
- 创建业界领导者——科利登投资人更新
- 作者：G Siddall 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 恩浦公司 特征分析 调试 半导体设备
- 描述：创建业界领导者——科利登投资人更新
- 良好开端,再攀高峰——访美国科利登(Credence)系统
- 作者：邬小梅 卢玥光 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 美国科利登系统公司 陈绪 人物采访 集成电路产业 战略部署
- 描述：良好开端,再攀高峰——访美国科利登(Credence)系统
- 科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
- 描述：开发。[第一段]
- Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 经济化 革新 测试 电子产品 电池寿命 操作性能 图象质量 制造商 消费类
- 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- ATE巨头科利登掀起测试行业新高潮
- 作者：Peter Wu Mike Evon 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 ATE 行业 科利登公司 高潮 掀起 SEMI 中国市场 中国用户 总经理
- 描述：采访记录。
- microtec购买多台科利登Sapphire D-10测
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 购买 渗透力 测试实验室 市场 有限公司 混合信号 音 视频 数字和 多媒体
- 描述：科利登系统有限公司宣布：欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH，购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音／视频数字