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射频消蚀
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函数逼近
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根据【检索词:射频芯片】搜索到相关结果
4
条
科利登新品提供先进的
射频
测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科利登公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科利登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)
射频
测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
测试能力
射频
RF
测试解决方案
Zigbee
半导体工业
WiMax
有限公司
测试选件
描述:
pphire D系列的测试能力。[第一段]
科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试实验室
测试系统
欧洲
混合信号
多媒体
高电压
芯片
视频
描述:
信号
芯片
,以及一些工业上应用的高电压
芯片
。[第一段]
科利登新增端对端6.4Gbps高速
芯片
测试产品
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
芯片
测试
高速
端对端
成本优势
测试选件
通道数量
参数分析
总线测试
IP技术
描述:
这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
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