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条
第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在
中国
西安
作者：
暂无
来源：
半导体技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
西安
并行测试
技术研讨会
解决方案
同期
封装测试
现场
展示
混合信号
设计
描述：
第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在
中国
西安
第四届科利登系列技术研讨年会子2006年6月2日在
中国
西安
作者：
暂无
来源：
半导体技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
技术研讨会
西安
中国
年会
IC测试
RFID芯片
描述：
对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣，积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨，同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10，也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
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