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科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]