检索结果相关分组
- 第四届科利登年度技术研讨会西安召开
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题，如IC 测试
- IC测试供应巨头科利登落户申城
- 作者：李冰心 来源：上海经济报 年份：2004 文献类型 ：报纸
- 描述：全球自动测试仪器（ATE）制造业领 军企业科利登（Credence）公司昨日正式 宣布在沪成立分公司。科利登总部位 于美国加州，从1978年成立至今，公司 已发展成为分支机构点遍布15个国家 的跨国
- 科利登任命Dave House为董事会新执行主席
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2005 文献类型 ：报纸
- 描述：［杨振中／北京］为世界 半导体工业提供从设计到生 产测试解决方案的领先供应 商──科利登系统有限公司 日前宣布：在英特尔公司担 任22年经理职务的Dave House，被任命为科利登董事 会
- ELMOS选择科利登FALCON系统测试汽车电子器件
- 作者：暂无 来源：电子资讯时报 年份：2007 文献类型 ：报纸
- 描述：【本报讯】汽车半导体设计对于成本 的要求日益敏感，并日渐关系到企业未 来业务的成败。目前，德国的半导体制 造商ELMOS已选择使用科利登FAL－ CON GLX系统，以达成具高可扩展性、 成本优势
- 威盛电子采用科利登实验室解决方案
- 作者：暂无 来源：电脑商报 年份：2014 文献类型 ：报纸
- 描述：威盛电子采用科利登实验室解决方案
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
- 创建业界领导者——科利登投资人更新
- 作者：G Siddall 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 恩浦公司 特征分析 调试 半导体设备
- 描述：创建业界领导者——科利登投资人更新
- 科利登D-6432DFT满足高数据速率需求
- 作者：暂无 来源：世界电子元器件 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 高数据速率 测试解决方案 科利登系统公司 半导体器件 高速串行总线 可测性设计 微处理器 环路测试
- 描述：的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器