检索结果相关分组
登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
登公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:2006年度VLSI Research客户满意度调查中,科登公司再次取得了很好的排名。科登公司已经连续五年被客户评选为“十佳”的前五名,这也证明了科登公司的产品、客户服务和支持的独到之处
胡布會淡化問題 料不發聯合聲明
作者:暂无 来源:香港文汇报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:扁「終統」不影響胡布會 外界預料胡布會後將舉行記者會,會中並安排雙方記者各發問一、兩個問題。不過,為了不讓本次胡布會蒙上陰影,中美雙方都打算淡化處理灣問題。至於灣問題會不會成為胡布會的危機?布