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相关搜索词
图形调试
Sapphire
存储器件
多功能
图象质量
Verity系统
存储器
多媒体
器件
Sun公司
半导体工业
参数分析
中国市场
测试
半导体行业
发展
Raytheon公司
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半导体材料
Octet系统
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科利登公司
增强型
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半导体业
systems公司
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根据【检索词:科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解】搜索到相关结果
645
条
科
利
登
Sapphire S
测试
系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器
芯片
SPARC
高速
芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
科
利
登
引领
测试
经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:
王明伟
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
新潮流
测试
系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品
测试
技术发展
测试
设备
描述:
科
利
登
引领
测试
经济化新潮流——Sapphire D-10亮
科
利
登
(Credence)公司混合信号
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
混合信号
测试
测试
系统
电子器件
测试
设备
提高成品率
器件
测试
电子
芯片
测试
成本
集成电路
测试
要求
描述:
科
利
登
(Credence)公司混合信号
测试
系统
ATE巨头
科
利
登
掀起
测试
行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
平台
ATE
行业
科
利
登
公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
科
利
登
系统荣获《
测试
与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统有限公司
测试
解决方案
测量系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先供应商——
科
利
登
系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
通过购买多台
科
利
登
的ASL1000
测试
系统Best Ele
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL1000
供应商
购买
半导体行业
Components公司
世界
有限公司
测试
成本
混合信号
测试
解决方案
描述:
ECCI是业界领先的
测试
方案供应商,可以为线性、模拟和混合信号器件提供参数及功能
测试
的完整方案。该公司将采用ASL1000^TM
测试
温度传感器,
Atmel利用
科
利
登
的ASL3000RF^TM无线
测试
系统
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
解决方案
测试
系统
性能
射频
芯片
开发团队
灵活度
科罗拉多
开发时间
分支机构
无线
测试
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其
测试
解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用
科
利
登
无线
测试
系统实现高效率
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线
测试
测试
解决方案
无线器件
高效率
射频
芯片
ASL3000
Atmel公司
分支机构
团队
工程开发
描述:
科
利
登
公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF系统作为其
测试
解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频
芯片
较低
Ikanos选择
科
利
登
的Octet
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统公司
Ikanos通讯公司
Octet
测试
系统
数字信号处理
描述:
Ikanos选择
科
利
登
的Octet
测试
系统
全新的
科
利
登
:提供先进技术降低
测试
成本
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
测试
成本
竞争优势
商业战略
描述:
全新的
科
利
登
:提供先进技术降低
测试
成本
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