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条
科
利
登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试实验室
测试系统
欧洲
混合信号
多媒体
高电压
芯片
视频
描述:
科
利
登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音,视频数字和混合
为不断降低测试成本而创新——访科
利
登公司中国区总经理陈绪先生
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登公司
总经理
测试成本
中国
创新
描述:
为不断降低测试成本而创新——访科
利
登公司中国区总经理陈绪先生
香港科技园运用科
利
登的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
特征分析
科技园
分析能力
诊断
香港
Systems
工具
有限公司
CMOS
工程验证
描述:
科
利
登系统有限公司(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列科
利
登诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
科
利
登新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
芯片测试
高速
端对端
成本优势
测试选件
通道数量
参数分析
总线测试
IP技术
描述:
这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
科
利
登端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高速总线
端对端
成本优势
测试选件
产品系列
有限公司
芯片测试
成本优化
验证分析
描述:
。[第一段]
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科
利
登Sapp
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
香港科技园运用科
利
登先进的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
科
利
登在
2006
年度SEMICON China展会上展出S
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
科
利
登系统有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述:
科
利
登系统有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了
2006
年度SEMICON China展会。科
利
登在SEMICON China展会上
服务测试领域 满足客户需求:访科
利
登系统公司首席执行官Da
作者:
Dave
Ranhoff
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登系统公司
首席执行官
服务测试
客户需求
测试解决方案
全球范围
技术人员
设备制造商
科
利
登公司
工业设计
描述:
科
利
登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
第四届科
利
登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨会
西安
中国
年会
IC测试
RFID芯片
描述:
对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自科
利
登的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的科
利
登最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
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