检索结果相关分组
- 第四届科利登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 技术研讨会 西安 中国 年会 IC测试 RFID芯片
- 描述：对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣，积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨，同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10，也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
- 科利登具有6．4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
- 科利登公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：在2006年度VLSI Research客户满意度调查中，科利登公司再次取得了很好的排名。科利登公司已经连续五年被客户评选为“十佳”的前五名，这也证明了科利登公司的产品、客户服务和支持的独到之处