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端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 高速总线  端对端  成本优势  测试选件  产品系列  有限公司  芯片测试  成本优化  验证分析 
描述:。[第一段]
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科Sapp
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
香港科技园运用科先进的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
服务测试领域 满足客户需求:访科系统公司首席执行官Da
作者:Dave Ranhoff  来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  首席执行官  服务测试  客户需求  测试解决方案  全球范围  技术人员  设备制造商  公司  工业设计 
描述:系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:2006年度VLSI Research客户满意度调查中,科公司再次取得了很好的排名。科公司已经连续五年被客户评选为“十佳”的前五名,这也证明了科公司的产品、客户服务和支持的独到之处
中国建筑的自主创新--中国建筑师应是2010年上海世博会建
作者:郑时龄  来源:城市规划学刊 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 中国  2010世博会  建筑  自主创新 
描述:中国经济蓬勃发展,建筑市场活跃,但在强大的外来文化冲击下,加上求新求异的环境氛围,中国建筑师尚未发挥先锋性和实验性的积极作用.在分析存在问题及原因的基础上,提出2010年上海世博会是中国建筑走向世界
中国花儿文化编年史略
作者:徐治河  来源:甘肃人民出版社 年份:2006 文献类型 :图书 关键词: 花儿  音乐  音乐史  编年史  中国  1470  2006 
描述:中国花儿文化编年史略
绕不过的陈寅恪——评黄永年《六至九世纪中国政治史》
作者:蒋爱花  来源:学术界 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 中国  政治史  陈寅恪  黄永年  表面现象 
描述:洽的逻辑框架来统领数百年纷繁芜杂的中国政治,而不仅是表面现象的罗列?如何在传统史料的分析中洞见合理合情的宏观关照,而不是一盘散沙?
世界贸易应是公平的舞台
作者:王裕平  来源:时代汽车(行业版) 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 世界贸易  国家安全  公平  零部件  联想  美国国防部  采购合同  舞台  收购  整车 
描述:还有"政府背景"。