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吴澄
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条
科利登SEMICON展出Sapphire D-10
系统
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登(Credence)在刚刚 结束的“
2006
SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
科利登的Sapphire S测试
系统
被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科利登公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利登Sapphire S测试
系统
被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统
使用
描述:
开发。[第一段]
科利登
系统
荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登
系统
有限公司
测试解决方案
测量
系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登
系统
有限公司日前宣布其S apphire D-10
系统
荣获
QuickLogic选用科利登Sapphire D-10
系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科利登
系统
(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试
系统
,并将选用该
系统
作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试
系统
。[第一段]
科利登新推出的Sapphire D-40
系统
能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
中国音乐文学史
作者:
朱谦之
来源:
上海人民出版社
年份:
2006
文献类型 :
图书
关键词:
音乐史
研究
中国
文学史
研究
中国
I209
描述:
中国音乐文学史
唐代音乐史
作者:
关也维
来源:
中央民族大学出版社
年份:
2006
文献类型 :
图书
关键词:
音乐史
音乐史
中国
中国
唐代
唐代
描述:
唐代音乐史
王安石 功名 第1部
作者:
万斌生
来源:
江西人民出版社
年份:
2006
文献类型 :
图书
关键词:
历史小说
历史小说
中国
中国
当代
当代
描述:
王安石 功名 第1部
王安石 苦辛 第2部
作者:
万斌生
来源:
江西人民出版社
年份:
2006
文献类型 :
图书
关键词:
历史小说
历史小说
中国
中国
当代
当代
描述:
王安石 苦辛 第2部
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