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首页>根据【检索词:非DRAM半导体测试领域】搜索到相关结果314条

优秀的人才体制应是“大浪淘沙”：访国家“千人计划”特聘专家: 作者：温才妃 来源：国际人才交流 年份：2013 文献类型：期刊文章 关键词： 人才体制 半导体 浪淘沙大功率激光器两个极端中国科学院转化工作重点实验室研究方向天才; 描述：片、大功率激光器及光电子芯片产业成果转移转化工作。博士毕业后他

有问必答CEO李浩：百度联盟助力塑造优良基因: 作者：本刊编辑部 来源：互联网周刊 年份：2013 文献类型：期刊文章 关键词： 移动互联网百度联盟医疗服务团队健康网站助力专业素养优良基因领域; 描述：不但李浩本人是医科专业出身,其团队中有40%的成员也是

首航应是厂方测试: 作者：暂无 来源：长江日报 年份：2014 文献类型：报纸; 描述：首航应是厂方测试

新闻总汇--测试与测量: 作者：暂无 来源：电子设计应用 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： LabVIEW工具包 NI公司非挥发性存储器器件软件驱动程序光纤通道控制器芯片科利登系统有限公司; 描述：新闻总汇--测试与测量

通讯领域也应是“法治社会”: 作者：成彪 来源：海峡导报 年份：2014 文献类型：报纸; 描述：通讯领域也应是“法治社会”

科利登跻身ATE塔尖行列: 作者：东郭 来源：电子设计应用 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 半导体行业科利登公司 ATE IC SoC 测试 ASL1000 ASL3000RF 市场; 描述：科利登跻身ATE塔尖行列

王安石巧对主考官: 作者：杨晓苍 来源：小学生之友 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： 王安石临川少年江西测试州府唐宋八大家听后宝塔文学家; 描述：王安石巧对主考官

科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 集成电路掩模量产时间诊断系统测试调试方法降低产品加工成本遗漏; 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。

ELMOS购买多台科利登Piranha^TM系统用于汽车器: 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 购买产品线汽车工业合作伙伴制造商系统公司器件 TM 测试; 描述：到30

科利登：立志成为全球最大的ATE公司: 作者：胡芃 来源：中国集成电路 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 半导体产业测试集成电路设计中国市场设备公司中国公司记者发展全球上海; 描述：China 2004期间,记者访问了科利登中国公司总经理Steve Chen和科利登公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。

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