检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(434)
报纸
(198)
会议论文
(7)
学位论文
(4)
图书
(2)
按栏目分组
历史名人
(576)
地方文献
(36)
地方风物
(11)
宗教集要
(10)
红色文化
(8)
非遗保护
(2)
才乡教育
(2)
按年份分组
2014
(82)
2012
(39)
2010
(23)
2007
(27)
2006
(55)
2005
(61)
2004
(53)
2003
(43)
1994
(7)
1991
(5)
按来源分组
电子工业专用设备
(20)
中国集成电路
(19)
电子与电脑
(17)
半导体技术
(17)
集成电路应用
(14)
电子与封装
(11)
电子测试(新电子)
(10)
电子元器件应用
(6)
国外电子测量技术
(5)
电子设计应用
(4)
相关搜索词
图形调试
Sapphire
存储器件
多功能
图象质量
Verity系统
存储器
多媒体
器件
Sun公司
半导体工业
参数分析
中国市场
测试
半导体行业
发展
Raytheon公司
吞吐量
供应商
加工成本
半导体材料
Octet系统
SoC芯片
复杂度
科利登公司
增强型
Personal
半导体业
systems公司
首页
>
根据【检索词:科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解】搜索到相关结果
55
条
QuickLogic选用
科
利
登
Sapphire D-10系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科
利
登
系统(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10
测试
系统,并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品
测试
系统。[第一段]
microtec购买多台
科
利
登
Sapphire D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
购买
渗透力
测试
实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科
利
登
系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10
测试
系统。该
测试
实验室将使用这些业界领先的
测试
系统来
测试
多媒体音/视频数字
低成本和高性能促成DEI购买
科
利
登
的ASL平台
作者:
本刊通讯员
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
DEI
平台
购买
促成
成本
测试
系统
专用集成电路
有限公司
SL系列
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布:DeviceEngineering Inc.(DEI)公司购买了ASL
测试
系统。此次ASL 3000^TM的定购是由ASL系列的低成本、高产能和高精度而促成的。DEI
科
利
登
任命行业翘楚为新任董事会执行主席
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
董事会
主席
House
行业
英特尔公司
有限公司
经理
描述:
科
利
登
系统有限公司日前宣布:在英特尔公司担任22年经理职务的Dave House。被任命为
科
利
登
董事会的执行主席,2005年12月9口起生效。House自Graham Siddall博士2005年
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
西安
并行
测试
技术研讨会
解决方案
同期
封装
测试
现场
展示
混合信号
设计
描述:
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会在西安成功举办
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨
西安
测试
解决方案
生产
测试
供应商
描述:
从设计到生产
测试
的全过程
测试
解决方案供应商——
科
利
登
系统有限公司(Credence Systems Corporation)日前在西安举办了该公司的“第四届
科
利
登
系列
测试
技术研讨年会”。[第一段]
香港科技园运用
科
利
登
的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
特征分析
科技园
分析能力
诊断
香港
Systems
工具
有限公司
CMOS
工程验证
描述:
科
利
登
系统有限公司(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列
科
利
登
诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
科
利
登
端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高速总线
端对端
成本优势
测试选件
产品系列
有限公司
芯片
测试
成本优化
验证分析
描述:
。[第一段]
香港科技园运用
科
利
登
先进的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
个完整的失效分析实验室,从而能较早地在
芯片
设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨会
西安
中国
年会
IC
测试
RFID
芯片
描述:
对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自
科
利
登
的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的
科
利
登
最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
首页
上一页
1
2
3
4
5
6
下一页
尾页