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相关搜索词
图形调试
Sapphire
存储器件
多功能
图象质量
Verity系统
存储器
多媒体
器件
Sun公司
半导体工业
参数分析
中国市场
测试
半导体行业
发展
Raytheon公司
吞吐量
供应商
加工成本
半导体材料
Octet系统
SoC芯片
复杂度
科利登公司
增强型
Personal
半导体业
systems公司
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根据【检索词:科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解】搜索到相关结果
645
条
Raytheon公司选用
科
利
登
的IMS Electm系统测
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Raytheon公司
IMSElectm系统
测试
逻辑集成电路
描述:
Raytheon公司选用
科
利
登
的IMS Electm系统测
京元电子购买多台
科
利
登
Sapphire系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
购买
客户
量产
节约
有限公司
电子
吞吐量
测试
成本
测试
系统
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布京元电子有限公司(KYEC)已经购买了多台Sapphire
测试
系统。京元将使用Sapphire提高其高
量产
测试
的吞吐量,为客户节约了
测试
成本。
科
利
登
连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科
利
登
系统公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科
利
登
系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳
测试
与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
科
利
登
新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产
时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科
利
登
日前宣布
推出
新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被
测试
失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入
量产
时间。
科
利
登
最新
推出
Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先供应商一科
利
登
系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
科
利
登
获“最佳
测试
奖”
作者:
暂无
来源:
上海商报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
本报讯 近日,来自美国加州苗必达市的消息称:
科
利
登
系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获2006年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“最佳
测试
奖”奖项。 据了解,Sapphire
科
利
登
:成就
测试
帝国
作者:
安勇龙
来源:
电子经理世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
:成就
测试
帝国
科
利
登
发布D-6432DFT
测试
解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
Systems
半导体设计
微处理器
供应商
性价比
器件
描述:
半导体设计、
测试
解决方案的供应商科
利
登
系统有限公司(Credence Systems Corporation)
推出
业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于
测试
Ikanos选择
科
利
登
的Octet系统用于宽带数宇信号处理
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
宽带数字信号处理器
测试
Octet系统
Ikanos公司
描述:
Ikanos选择
科
利
登
的Octet系统用于宽带数宇信号处理
DA
测试
公司应用
科
利
登
Quartet One来提高
测试
能力
作者:
暂无
来源:
无线电工程
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统公司
DA
测试
公司
QuartetOne
SoC
芯片
测试
能力
描述:
DA
测试
公司应用
科
利
登
Quartet One来提高
测试
能力
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