检索结果相关分组
- 新昆山腔的曲律规范与汤显祖剧作的"失律"
- 作者：黄振林 来源：东华理工学院学报（社会科学版） 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 汤显祖 新昆山腔 失律
- 描述："失律".
- Credence和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Cadence 验证 合作 科利登系统公司 诊断 测试平台 Test 测试向量
- 描述：段]
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 应物斯感 吟咏情性——虞集《小孤山新修一柱峰亭记》赏析
- 作者：竺洪波 来源：作文世界(高中) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 小孤山 吟咏情性 虞集 文意 赏析 境界 古文观止 借景抒情 散文 翰林学士
- 描述：应物斯感 吟咏情性——虞集《小孤山新修一柱峰亭记》赏析
- 科利登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Cadence 验证 合作 科利登系统公司 诊断 测试平台 Test 测试覆盖率 测试向量
- 描述：adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中，使用该诊断流程能增加测试覆盖率，提高缺陷定位速度。[第一段]
- 科利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登（Credence）和Cadence共同努力，针对现在大部分良率要求很高的纳米设计，推出的解决方案提高了产品质量，加大了测试产能，加快了缺陷定位速度，从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]