检索结果相关分组
Atmel利用的ASL3000RFTM无线测试系统
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  ASL3000  测试效率  WLAN  测试解决方案  无线器件  测试成本  分支机构  团队  工程开发 
描述:N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。
矽格定购了多台Sapphire测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:测试与封装外包市场的增长。
推出Kalos 2 Hex系统作为存储器器件灵活,完
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Kalos  测试解决方案  x系统  推出  He  集成电路测试系统  Personal  系统公司  非挥发性存储器  存储器件  测试能力  软件工具  嵌入式  全兼容  硬件 
描述:生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。多台K2 Hex系统已经安装并用于复杂嵌入存储器件测试
连续三年ATE供应商满意度第一
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: VLSI  超大规模集成电路  测试  系统公司  ATE  供应商  满意度 
描述:系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 集成电路  掩模  量产时间  诊断系统  测试  调试方法  降低  产品  加工成本  遗漏 
描述:日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
推出注重芯片成本的高量产测试系统
作者:暂无 来源:电子设计应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  芯片  成本控制  封装测试系统  D—10系统  图形调试 
描述:推出注重芯片成本的高量产测试系统
:成就测试帝国
作者:安勇龙  来源:电子经理世界 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述::成就测试帝国
Atmel购买系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 购买  Atmel公司  测试解决方案  科罗拉多州  有限公司  RF系统  射频芯片  无线器件  开发团队  分支机构  开发时间  ASL  灵活度 
描述:系统有限公司近日宣布,Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:王明伟  来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 新潮流  测试系统  低成本  半导体工业  生产商  解决方案  经济化  产品测试  技术发展  测试设备 
描述:引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
Silicon Image购买了Sapphire测试
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  电子器件  测试系统  消费类  购买  系统公司  gigabit  一代  测试解决方案  半导体工业  测试平台  有限公司  数据传输  供应商  存储器  代码 
描述:些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。