检索结果相关分组
- 第四届科利登年度技术研讨会西安召开
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题，如IC 测试
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
- 科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
- 描述：开发。[第一段]
- ATE巨头科利登掀起测试行业新高潮
- 作者：Peter Wu Mike Evon 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 ATE 行业 科利登公司 高潮 掀起 SEMI 中国市场 中国用户 总经理
- 描述：采访记录。
- 科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商
- 描述：2006年2月10日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
- QuickLogic选用科利登Sapphire D-10系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 Logic公司 Quick 有限公司 工程验证 FPGA 低功耗 产品
- 描述：科利登系统（Credence）有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试系统，并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]
- microtec购买多台科利登Sapphire D-10测
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 购买 渗透力 测试实验室 市场 有限公司 混合信号 音 视频 数字和 多媒体
- 描述：科利登系统有限公司宣布：欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH，购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音／视频数字
- 低成本和高性能促成DEI购买科利登的ASL平台
- 作者：本刊通讯员 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： ASL3000 DEI 平台 购买 促成 成本 测试系统 专用集成电路 有限公司 SL系列
- 描述：科利登系统有限公司近日宣布：DeviceEngineering Inc．（DEI）公司购买了ASL测试系统。此次ASL 3000^TM的定购是由ASL系列的低成本、高产能和高精度而促成的。DEI