检索结果相关分组
- 科利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登（Credence）和Cadence共同努力，针对现在大部分良率要求很高的纳米设计，推出的解决方案提高了产品质量，加大了测试产能，加快了缺陷定位速度，从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
- 科利登的QBIX选件为Sapphire测试平台提供先进的模
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 测试能力 科利登系统公司 模拟 测试应用 数字电视 模数转换 音 视频 XDSL
- 描述：科利登系统公司日前宣布：在Sapphire平台上采用四通道宽带集成收发选件（QBIX）能完成种类丰富的多种芯片的测试应用。这些测试包含数字电视，音／视频数模／模数转换，XDSL，中频，移动基带
- 科利登具有6．4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
- 科利登公司简介 科利登 系统公司
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 公司简介 自动测试设备 美国加利福尼亚州 ISO9001认证 检测技术 测试设施 注册商标 测试验证 半导体生产 测试成本
- 描述：科利登公司简介 科利登 系统公司
- 科利登获“最佳测试奖”
- 作者：暂无 来源：上海商报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述： 本报讯 近日，来自美国加州苗必达市的消息称：科利登系统有限公司的Ｓａｐｐｈｉｒｅ Ｄ－１０系统荣获２００６年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解，Ｓａｐｐｈｉｒｅ
- 科利登:成就测试帝国
- 作者：安勇龙 来源：电子经理世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登:成就测试帝国
- 科利登Sapphire D-10系统获奖
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统 获奖 award 有限公司 Best Test 测试
- 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
- 科利登跻身ATE塔尖行列
- 作者：东郭 来源：电子设计应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体行业 科利登公司 ATE IC SoC 测试 ASL1000 ASL3000RF 市场
- 描述：科利登跻身ATE塔尖行列