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条
第四届科利登系列
技术
研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
西安
并行测试
技术
研讨会
解决方案
同期
封装测试
现场
展示
混合信号
设计
描述:
第四届科利登系列
技术
研讨年会于2006年6月2日在中国西安
第四届科利登系列
技术
研讨年会在西安成功举办
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术
研讨
西安
测试解决方案
生产测试
供应商
描述:
从设计到生产测试的全过程测试解决方案供应商——科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)日前在西安举办了该公司的“第四届科利登系列测试
技术
研讨年会”。[第一段]
第四届科利登系列
技术
研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术
研讨会
西安
中国
年会
IC测试
RFID芯片
描述:
对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
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