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条
科
利登(Cre dence):访
科
利登系统(上海)有限公司
作者:
丁力
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统有限公司
陈绪
人物访谈
发展战略
中国市场
测试设备
描述:
2004年3月17~19日,SEMI—CON中国
2004
展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
创建业界领导者——
科
利登投资人更新
作者:
G
Siddall
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登公司
恩
浦公司
特征分析
调试
半导体设备
描述:
创建业界领导者——
科
利登投资人更新
汤显祖佚文《候掌
科
刘公启》考略
作者:
徐国华
来源:
东华理工学院学报(社会科学版)
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
汤显祖
尺牍
四六
描述:
康熙甲子刻本《听嘤堂仕林启隽》中收有汤显祖作的《候掌
科
刘公启》一文,经寻绎辨析确定为新发现的汤氏佚文。该尺牍的发现,有助于我们全面考察汤显祖四六尺牍的艺术特征,对于深入了解汤氏的生平经历、交游活动
新型
科
利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换系统
调试方法
工艺性能
描述:
新型
科
利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
Credence
科
利登为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:
乔治
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体公司
成本效益
Credence
小型化
集成化
描述:
作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
科
利登提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统公司
集成电路
测试技术
系统级芯片
嵌入式温度稳定技术
Personal
Kalos
2
ASL
3000RF
描述:
。
科
利登系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。
科
利登系统公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
科
利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
软件设计
长工作距离
新型集成电路
失效模式
切换系统
竞争优势
制造工艺
描述:
探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与
科
利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
科
利登系统(上海)有限公司正式成立
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利登系统(上海)有限公司正式成立
新型
科
利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
新型
科
利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
新型
科
利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
掩模
测试解决方案
系统定位
集成电路
量产时间
物理分析
供应商
问题
产品
描述:
正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
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