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相关搜索词
测试
器件测试
器件
半导体工业
半导体生产
半导体材料
科利登公司
失效分析
Raytheon公司
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根据【检索词:科利登系统公司(Credence System)将并购恩普】搜索到相关结果
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条
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换
系统
调试方法
工艺性能
描述:
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
定位
成品率
失效分析
软件设计
长工作距离
新型集成电路
失效模式
切换
系统
竞争优势
制造工艺
描述:
探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该
系统
与
科
利
登
的EmiScope
系统
(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
科
利
登
系统
(上海)有限公司正式成立
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
系统
(上海)有限公司正式成立
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
新型
科
利
登
GlobalScan-Ⅰ
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
掩模
测试解决方案
系统
定位
集成电路
量产时间
物理分析
供应商
问题
产品
描述:
正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
ELMOS签署了购买多台
科
利
登
Piranha
系统
协议
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
签署
购买
产品线
合作伙伴
科
利
登
公司
需求
协议
ha
系统
器件
平台
描述:
科
利
登
公司
日前宣布,ELMOS半导体签署了购买多台
科
利
登
Piranha
系统
的协议。作为
科
利
登
的长期合作伙伴,ELMOS选择Piranha是因为该
系统
能够满足
公司
对支持其整个汽车器件产品线测试
科
利
登
GlobalScan-Ⅰ
系统
定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
步进扫描
图像叠加
掩模
系统
定位
集成电路
量产时间
问题
产品
加工成本
描述:
效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
Ikanos选择
科
利
登
的Octet测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
Ikanos通讯
公司
Octet测试
系统
数字信号处理
描述:
Ikanos选择
科
利
登
的Octet测试
系统
DMEA购买
科
利
登
IMS Vanguard测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
DMEA工程实验室
IMS
Vanguard测试
系统
科
利
登
公司
微处理器
描述:
DMEA购买
科
利
登
IMS Vanguard测试
系统
IKanos选择
科
利
登
的Octet
系统
用于宽带数字信号处理
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
IKanos
公司
科
利
登
系统
公司
Octet
系统
宽带数字信号处理器
并行测试
描述:
IKanos选择
科
利
登
的Octet
系统
用于宽带数字信号处理
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