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相关搜索词
图形调试
Sapphire
存储器件
多功能
图象质量
Verity系统
存储器
多媒体
器件
Sun公司
半导体工业
参数分析
中国市场
测试
半导体行业
发展
Raytheon公司
吞吐量
供应商
加工成本
半导体材料
Octet系统
SoC芯片
复杂度
科利登公司
增强型
Personal
半导体业
systems公司
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根据【检索词:科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解】搜索到相关结果
61
条
京元电子购买多台
科
利
登
Sapphire系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
购买
客户
量产
节约
有限公司
电子
吞吐量
测试
成本
测试
系统
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布京元电子有限公司(KYEC)已经购买了多台Sapphire
测试
系统。京元将使用Sapphire提高其高
量产
测试
的吞吐量,为客户节约了
测试
成本。
科
利
登
连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科
利
登
系统公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科
利
登
系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳
测试
与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
科
利
登
新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产
时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科
利
登
日前宣布
推出
新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被
测试
失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入
量产
时间。
科
利
登
:成就
测试
帝国
作者:
安勇龙
来源:
电子经理世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
:成就
测试
帝国
Zetex半导体选择
科
利
登
的ASL3000
测试
其类型广泛的
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
混合信号
拟和
科
利
登
系统公司
类型
测试
解决方案
集成电路器件
美国加州
半导体业
测试
成本
分立器件
产品市场
测试
方案
供应商
设计
描述:
说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的
测试
方案。
科
利
登
引领
测试
经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:
王明伟
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
新潮流
测试
系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品
测试
技术发展
测试
设备
描述:
科
利
登
引领
测试
经济化新潮流——Sapphire D-10亮
Atmel利用
科
利
登
的ASL3000RF^TM无线
测试
系统
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
解决方案
测试
系统
性能
射频
芯片
开发团队
灵活度
科罗拉多
开发时间
分支机构
无线
测试
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其
测试
解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用
科
利
登
无线
测试
系统实现高效率
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线
测试
测试
解决方案
无线器件
高效率
射频
芯片
ASL3000
Atmel公司
分支机构
团队
工程开发
描述:
科
利
登
公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF系统作为其
测试
解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频
芯片
较低
矽格定购
科
利
登
Sapphire
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
矽格微电子公司
Sapphire
测试
系统
科
利
登
系统有限公司
SoC器件
定购
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布:矽格微电子公司,已经购买了多台Sapphire
测试
系统。作为
科
利
登
近10年的客户,矽格直接经历了SoC器件的需求增长,这一增长同时也加速了
消费类
IC
测试
与封装外包市场
Atmel利用
科
利
登
的ASL3000RFTM无线
测试
系统实
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线
测试
ASL3000
测试
效率
WLAN
测试
解决方案
无线器件
测试
成本
分支机构
团队
工程开发
描述:
N器件市场提供了关键的节约
测试
成本的解决方案。
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