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根据【检索词:科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解】搜索到相关结果
14
条
IKanos选择
科
利
登
的Octet系统用于宽带数字信号处理
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
IKanos公司
科
利
登
系统公司
Octet系统
宽带数字信号处理器
并行
测试
描述:
IKanos选择
科
利
登
的Octet系统用于宽带数字信号处理
科
利
登
和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统公司
诊断
测试
平台
Test
测试
覆盖率
测试
向量
描述:
adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加
测试
覆盖率,提高缺陷定位速度。[第一段]
Credence亮相Semicon China 2003:
作者:
周检兵
来源:
集成电路应用
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统公司
Mr.LarryDibattista
半导体行业
SemiconChina2003
中国市场
测试
描述:
供设计、
测试
验证和先进的光学检测方面的
测试
技术,使低
测试
成本和快速市场投放成为可能。Credence公司还可
Crystek
推出
采用SMD封装的5GHz VCO/Ver
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
Crystek
推出
采用SMD封装的5GHz VCO/Ver
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