江西临川文化特色文献库

检索结果相关分组

按文献类别分组: 期刊文章(385); 报纸(215); 会议论文(3); 图书(1)

按栏目分组: 历史名人 (552); 地方文献 (21); 地方风物 (13); 宗教集要 (9); 红色文化 (5); 非遗保护 (3); 才乡教育 (1)

按年份分组: 2007(26); 2006(42); 2005(55); 2004(47); 2003(31); 2001(7); 1991(4); 1989(4); 1988(3); 1987(5)

按来源分组: 电子工业专用设备(19); 中国集成电路(18); 电子与电脑(17); 半导体技术(16); 集成电路应用(12); 电子与封装(11); 电子测试(新电子)(10); 电子元器件应用(6); 电子产品世界(6); 无线电工程(1)

首页>根据【检索词:科利登公司】搜索到相关结果16条

Atmel利用科利登的ASL3000RFTM无线测试系统实: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 无线测试 ASL3000 测试效率 WLAN 测试解决方案无线器件测试成本分支机构团队工程开发; 描述：N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。

科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司 VLSI公司用户满意度自动测试设备; 描述：科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查

第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 西安并行测试技术研讨会解决方案同期封装测试现场展示混合信号设计; 描述：第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安

第四届科利登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 技术研讨会西安中国年会 IC测试 RFID芯片; 描述：对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣，积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨，同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10，也吸引了代表们的高度关注。[第一段]

良好开端,再攀高峰——访美国科利登(Credence)系统: 作者：邬小梅卢玥光 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： 美国科利登系统公司陈绪人物采访集成电路产业战略部署; 描述：良好开端,再攀高峰——访美国科利登(Credence)系统

科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： China 测试系统 IC 成本科利登系统公司芯片市场需求多功能; 描述：为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求，科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统

首页上一页 1 2 下一页尾页