检索结果相关分组
具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一
为不断降低测试成本而创新——访公司中国区总经理陈绪先生
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  总经理  测试成本  中国  创新 
描述:为不断降低测试成本而创新——访公司中国区总经理陈绪先生
新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 芯片测试  高速  端对端  成本优势  测试选件  通道数量  参数分析  总线测试  IP技术 
描述:这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台Sapp
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
服务测试领域 满足客户需求:访系统公司首席执行官Da
作者:Dave Ranhoff  来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  首席执行官  服务测试  客户需求  测试解决方案  全球范围  技术人员  设备制造商  公司  工业设计 
描述:系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
最新推出Sapphire
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  有限公司  半导体材料  半导体工业  美国加州  供应商  e系列  系统 
描述:来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
威盛电子选用解决方案
作者:刘林发  来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 威盛电子股份有限公司  设计公司  分析实验室  台湾地区  特征分析  Inc  生产线  购买 
描述:系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
帝国政界往事:公元1127年大宋实录(连载五)
作者:李亚平  来源:现代领导(A版) 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 宋徽宗  帝国  王安石变法  励精图治  军事工作 
描述:太后和她的婆婆宣仁太后一样讨厌变法派。于是请一位老成持重的保守派人物韩忠彦担任宰相。很快.这位对国政没有什么兴趣的太后就宣布归政.3个月后便驾鹤西去。此时的第二宰相就是那位拥立徽宗即位.斥责章居叵测的曾布。这位曾布不是一个简单人物,其实他与章一样.都是王安石变法的重要拥护者。但他很讨厌章,原因是章过于强行霸道.压得曾布无法出头;另一方面,他也不喜欢蔡京。当时,他是知枢密院事,主管全国的军事工作。
SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──(Credence)在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
第四届年度技术研讨会西安召开
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试