检索结果相关分组
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
- 科利登新品提供先进的射频测试能力
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试能力 射频 Zigbee 科利登公司 WiMax 测试选件 网络分析 测试平台 无线电话
- 描述：科利登公司近日宣布：在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析（MVNA）射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话，WLAN，WiMax以及Zigbee等器件上的能力
- 为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 作者：胡芃 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 总经理 测试成本 中国 创新
- 描述：为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 科利登新增端对端6．4Gbps高速芯片测试产品
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 芯片测试 高速 端对端 成本优势 测试选件 通道数量 参数分析 总线测试 IP技术
- 描述：这些选件成为6．4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
- 欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科利登Sapp
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：频数字和混合信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]