检索结果相关分组
- ATE巨头科利登掀起测试行业新高潮
- 作者：Peter Wu Mike Evon 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 ATE 行业 科利登公司 高潮 掀起 SEMI 中国市场 中国用户 总经理
- 描述：采访记录。
- 科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商
- 描述：2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Bestin Test Award（最佳测试奖）”奖项。
- 科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 测试能力 射频 RF 测试解决方案 Zigbee 半导体工业 WiMax 有限公司 测试选件
- 描述：pphire D系列的测试能力。[第一段]
- 第四届科利登年度技术研讨会西安召开
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题，如IC 测试
- 为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 作者：胡芃 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 总经理 测试成本 中国 创新
- 描述：为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 科利登新增端对端6．4Gbps高速芯片测试产品
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 芯片测试 高速 端对端 成本优势 测试选件 通道数量 参数分析 总线测试 IP技术
- 描述：这些选件成为6．4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
- 欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科利登Sapp
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：频数字和混合信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
- 服务测试领域 满足客户需求：访科利登系统公司首席执行官Da
- 作者：Dave Ranhoff 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 首席执行官 服务测试 客户需求 测试解决方案 全球范围 技术人员 设备制造商 科利登公司 工业设计
- 描述：科利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]