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新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 模块化结构  SoC芯片  特性  无线应用  芯片尺寸  测试设备  工程验证  混合信号  复杂度 
描述:SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
全新的科:提供先进技术降低测试成本
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  测试成本  竞争优势  商业战略 
描述:全新的科:提供先进技术降低测试成本
登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  VLSI公司  用户满意度  自动测试设备 
描述:登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
第四届科系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 西安  并行测试  技术研讨会  解决方案  同期  封装测试  现场  展示  混合信号  设计 
描述:第四届科系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
第四届科系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 技术研讨会  西安  中国  年会  IC测试  RFID芯片 
描述:对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自科的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的科最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: China  测试系统  IC  成本  系统公司  芯片  市场需求  多功能 
描述:为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,科系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统