检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(1385)
报纸
(501)
图书
(372)
学位论文
(11)
会议论文
(8)
按栏目分组
历史名人
(2013)
地方文献
(161)
红色文化
(27)
宗教集要
(23)
地方风物
(23)
才乡教育
(16)
非遗保护
(10)
文化溯源
(4)
按年份分组
2014
(315)
2006
(126)
2005
(129)
2004
(129)
2003
(83)
2001
(59)
1991
(22)
1982
(11)
1957
(4)
1922
(1)
按来源分组
其它
(87)
电子工业专用设备
(19)
中国集成电路
(18)
半导体技术
(15)
音乐出版社
(13)
上海文艺出版社
(8)
海峡文艺出版社
(4)
浙江大学出版社
(3)
安徽教育出版社
(1)
现代出版社
(1)
相关搜索词
半导体工业
半导体产业
创新
中国
山城
音乐史
音乐欣赏
鼓
洞箫
列传
高等学校
曹洞宗
近代
变法
女性
简介
企业管理
图书市场
党政机关
作品选登
周礼
二板市场
戏曲
史学家
国家经营
含义
历史文化
培训中心
何源富
汤显祖全集
首页
>
根据【检索词:中国科学社】搜索到相关结果
129
条
科
利登任命David A.Ranhoff为首席执行官
作者:
暂无
来源:
电子质量
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
公司战略
首席执行官
首席运营官
董事会
继任
主席
CEO
博士
计划
管理架构
描述:
前设立的。作为公司新的管理架构的一部分,先前由Ranhoff担任的首席运营官的职位将被取消。
全新的
科
利登,1+1>2
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统公司
自动测试设备
测试系统
解决方案
技术专家
研讨会
领导者
非挥发性
团队
结构分析技术
描述:
决方案,并提供了许多种类的测试系统,包括模拟、数字、非挥发性内存、
科
利登宣布收购NPTest的最终协议
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登公司
NPTest公司
非DRAM半导体测试领域
企业重组
描述:
科
利登宣布收购NPTest的最终协议
科
利登:立志成为全球最大的ATE公司
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体产业
测试
集成电路设计
中国市场
设备公司
中国
公司
记者
发展
全球
上海
描述:
China
2004
期间,记者访问了
科
利登
中国
公司总经理Steve Chen和
科
利登公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
科
利登加入PCI—SIG和HyperTransport组织
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登公司
PCI
SIG
HyperTransport组织
系统级芯片
描述:
科
利登加入PCI—SIG和HyperTransport组织
科
利登(Cre dence):访
科
利登系统(上海)有限公司
作者:
丁力
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统有限公司
陈绪
人物访谈
发展战略
中国市场
测试设备
描述:
2004年3月17~19日,SEMI—CON
中国
2004
展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
IC测试供应巨头
科
利登落户申城
作者:
李冰心
来源:
上海经济报
年份:
2004
文献类型 :
报纸
描述:
全球自动测试仪器(ATE)制造业领 军企业
科
利登(Credence)公司昨日正式 宣布在沪成立分公司。
科
利登总部位 于美国加州,从1978年成立至今,公司 已发展成为分支机构点遍布15个国家 的跨国
创建业界领导者——
科
利登投资人更新
作者:
G
Siddall
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登公司
恩浦公司
特征分析
调试
半导体设备
描述:
创建业界领导者——
科
利登投资人更新
汤显祖佚文《候掌
科
刘公启》考略
作者:
徐国华
来源:
东华理工学院学报(社会科学版)
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
汤显祖
尺牍
四六
描述:
康熙甲子刻本《听嘤堂仕林启隽》中收有汤显祖作的《候掌
科
刘公启》一文,经寻绎辨析确定为新发现的汤氏佚文。该尺牍的发现,有助于我们全面考察汤显祖四六尺牍的艺术特征,对于深入了解汤氏的生平经历、交游活动
新型
科
利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换系统
调试方法
工艺性能
描述:
新型
科
利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
首页
上一页
1
2
3
4
5
6
下一页
尾页